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ELAP PM2S-50-5K-M12光柵尺工作原理
  • 發(fā)布日期:2025-05-29      瀏覽次數(shù):62
    •     ELAP PM2S-50-5K-M12光柵尺是一款基于光學(xué)莫爾條紋原理實(shí)現(xiàn)高精度位移測量的傳感器,其工作原理可分為光學(xué)成像、信號轉(zhuǎn)換與處理、位移計(jì)算三個核心環(huán)節(jié)。以下結(jié)合其技術(shù)特性進(jìn)行詳細(xì)解析:

      一、光學(xué)成像:莫爾條紋的生成與特性

      光柵副結(jié)構(gòu)

      標(biāo)尺光柵(主光柵):鍍膜玻璃材質(zhì),表面刻有等間距(柵距W=0.02mm)的明暗條紋,固定于機(jī)床導(dǎo)軌。

      指示光柵(副光柵):安裝于讀數(shù)頭內(nèi),與標(biāo)尺光柵保持微小夾角θ(通?!?.1°),形成莫爾條紋的關(guān)鍵結(jié)構(gòu)。

      莫爾條紋形成

      當(dāng)兩光柵發(fā)生相對位移時,刻線交叉區(qū)域因光強(qiáng)疊加產(chǎn)生明暗相間的條紋,其寬度BH=W/θ(例如θ=0.1°時,BH=0.02mm/0.0017≈11.76mm)。

      特性優(yōu)勢:

      位移放大:條紋寬度是柵距的數(shù)十倍,顯著提升測量靈敏度。

      誤差平均:條紋由大量柵線共同形成,可抵消局部刻劃誤差。

      方向辨識:條紋移動方向與光柵相對運(yùn)動方向垂直,便于判斷位移方向。

      二、信號轉(zhuǎn)換與處理:從光信號到電信號

      光電轉(zhuǎn)換

      紅外LED光源:發(fā)射穩(wěn)定紅外光,穿透光柵副后形成莫爾條紋光斑。

      光電元件陣列:4組光電管按90°相位差排列,接收條紋光強(qiáng)變化并輸出4路正弦波信號(A、B、/A、/B)。

      信號處理流程

      差分放大:消除共模干擾,提升信噪比。

      濾波整形:將正弦波轉(zhuǎn)換為TTL方波,確保信號邊沿陡峭。

      四倍頻細(xì)分:通過相位差計(jì)算,將分辨率提升至柵距的1/4(例如柵距0.02mm時,分辨率可達(dá)0.005mm)。

      三、位移計(jì)算:從電信號到數(shù)值輸出

      計(jì)數(shù)與辨向

      A/B相脈沖:A相超前B相90°時,位移為正向;反之則為反向。

      Z相參考點(diǎn):每50mm設(shè)置一個零位標(biāo)記,用于消除累計(jì)誤差。

      數(shù)值顯示與輸出

      數(shù)顯表接口:支持RS422協(xié)議,實(shí)時顯示位移量(如X=123.456mm)。

      數(shù)控系統(tǒng)集成:通過PLC或CNC控制器,實(shí)現(xiàn)刀具補(bǔ)償、位置閉環(huán)控制等功能。

      四、技術(shù)參數(shù)與性能優(yōu)勢

      核心參數(shù)

      量程:50mm至5000mm,覆蓋多數(shù)機(jī)床行程需求。

      精度:±0.001mm(50-200mm量程),±0.004mm(500-1000mm量程)。

      分辨率:0.001mm/0.002mm/0.005mm/0.01mm可調(diào)。

      響應(yīng)速度:最高90米/分鐘,適應(yīng)高速加工場景。

      環(huán)境適應(yīng)性

      防護(hù)等級:IP67,防塵防水設(shè)計(jì)。

      工作溫度:-10℃至60℃,適應(yīng)車間環(huán)境。

      抗沖擊/振動:100g沖擊、30g振動下仍可穩(wěn)定工作。

      五、應(yīng)用場景與價值

      數(shù)控機(jī)床

      用于銑床、磨床的進(jìn)給軸閉環(huán)控制,提升加工精度(如模具加工差≤0.005mm)。

      實(shí)時補(bǔ)償熱變形誤差,延長機(jī)床精度保持周期。

      自動化生產(chǎn)線

      監(jiān)控機(jī)械臂抓取位置,確保裝配精度(如汽車零部件公差±0.01mm)。

      集成于物流分揀系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)貨物精準(zhǔn)定位。

      科研實(shí)驗(yàn)

      材料力學(xué)測試中測量微小形變(如拉伸試驗(yàn)位移分辨率0.1μm)。

      光學(xué)儀器校準(zhǔn),提供基準(zhǔn)位移數(shù)據(jù)。


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